通过认证 
是否支持加工定制
是
是否进口
否
测量精度
1％
重量
38kg
检测元素范围
可检测元素包括Au、Ag、Ni、Cu、Sn等，覆盖原子序数13（Al）至92（U）
镀层厚度范围
0.01μm至50μm
检测时间
5-60s
X射线源类型
微焦点X射线管
样品室尺寸
300mm×200mm×50mm
校准方式
内置标准片自动校准，支持用户自定义校准曲线
多层级镀层检测
支持双层或三层镀层测量
用户界面
实时显示光谱曲线和厚度值
数据存储与导出
存储10万条记录，支持USB导出Excel、PDF或CSV格式报告
电源要求
AC 100-240V，50/60Hz，功耗≤100W
环境适应性
工作温度10-40°C，湿度≤80％RH（无冷凝）
通信接口
USB、蓝牙、Wi-Fi或以太网
符合标准
ISO 3497（金属镀层厚度测量）、ASTM B568等国际标准
应用行业
电子电镀、PCB制造、珠宝质检、汽车零部件、航空航天等
产品名称
镀层测厚仪
测量原理
X 射线荧光光谱法 (XRF)
测量元素范围
从 Na 到 U
镀层类型
单层、多层、合金镀层、贵金属、PCB 镀层、转化膜、油漆涂层等
厚度测量范围
0-50微米
重复性
3±％
最小测量点
0.01um
多元素同步分析
5层同时分析
基材适应性
金属、塑料、陶瓷、硅片
靶材类型
Rh, Pd, Ag, W, Mo
探测器类型
Si-PIN 、 SDD
准直器
Ø0.1mm, Ø0.3mm, Ø0.5mm, Ø1.0mm, Ø2.0mm 等
滤光片系统
自动切换
样品腔
可定制
测量窗口
1cm
定位装置
电动 XYZ 平台
安全防护
X 射线安全联锁装置
品牌
安原仪器
